英语 ⇄ 中文 俄语

single-event gate rupture 强调
电子产品	Пробой подзатворного диэлектрика в мощных МОП-транзисторах (происходит в результате попадания в транзистор тяжёлых заряженных частиц с высокой энергией Klimonka)