Вхід | Ukrainian | Угода користувача
СловникиФорумКонтакти

   Російська ⇄ Англійська
Google | Forvo | +
Пробой подзатворного диэлектрика в мощных МОП-транзисторахнаголоси
ел. single-event gate rupture (происходит в результате попадания в транзистор тяжёлых заряженных частиц с высокой энергией Klimonka)

Додати | Повідомити про помилку | Коротке посилання | Способи вибору мов