Англійська ⇄ Китайська Російська +

single-event gate rupture наголоси
ел.	Пробой подзатворного диэлектрика в мощных МОП-транзисторах (происходит в результате попадания в транзистор тяжёлых заряженных частиц с высокой энергией Klimonka)