Вход
|
Russian
|
Соглашение пользователя
Словари
Форум
Купить
Скачать
Контакты
Английский
⇄
Русский
Украинский
G
o
o
g
l
e
|
Forvo
|
+
wafer acceptance test structure
ударения
микроэл.
тестовая структура, определяющая качество полупроводниковой пластины
Добавить
|
Сообщить об ошибке
|
Короткая ссылка
|
Способы выбора языков
