Английский ⇄ Китайский Русский +

single-event gate rupture ударения
эл.	Пробой подзатворного диэлектрика в мощных МОП-транзисторах (происходит в результате попадания в транзистор тяжёлых заряженных частиц с высокой энергией Klimonka)