 |
| |||
| тестовый порт (напр. интерфейса JTAG) | |||
| порт доступа к встроенным аппаратным средствам тестирования (PAYX) | |||
| сетевой тест-порт (ssn); тестовый порт доступа (ssn); порт доступа к средствам тестирования (тж. тест-порт; согласно требованиям стандарта JTAG (IEEE 1149.1-1990), содержит пять внешних выводов: TDI (test data input) – вход тестовых данных, TDO (test data output) – выход тестовых данных, TMS (test mode select) – выбор тестового режима, ТСК (test clock) – тестовая синхронизация и необязательный (факультативный) вывод TRST (test reset) – асинхронный сброс ssn); порт доступа к сети для тестирования (ssn) | |||
| порт доступа к средствам тестирования интегральной схемы | |||
| тест-порт | |||
| |||
| TAP-порт (A collection of boundary scan control signals that define a serial protocol for scan-based devices. There are five pins, TCK/clock, TMS/mode select, TDI/data in, TDO/data out, and TRST/reset) | |||
| Angielski tezaurus | |||
| |||
| TAP (IC, IEEE 1149.1) | |||
| test access port: 3 do fraz, 2 tematyki |
| Elektronika | 1 |
| Programowanie | 2 |