Sign in | English | Terms of Use
DictionaryForumContacts
Google | Forvo | +

single-event gate rupture

stresses
el. Пробой подзатворного диэлектрика в мощных МОП-транзисторах (происходит в результате попадания в транзистор тяжёлых заряженных частиц с высокой энергией Klimonka)

Add | Report an error | Get short URL