Terms for subject Microelectronics containing for Testing

English	German
substitute the test chips at selected sites for integrated circuits on wafers	die integrierten Schaltkreise durch Testchips in ausgewählten Plätzen auf den Wafern ersetzen
test circuit for performance measurement	Testschaltkreis für Leistungsmessung
test for opens or shorts	auf Stromkreisunterbrechungen oder Kurzschlüsse prüfen
test for the absence of error	auf Fehlerlosigkeit kontrollieren
test matrix for reproducibility studies	Prüfmatrix für Reproduzierbarkeitsuntersuchungen
testing for faults	Prüfung auf Fehler