| English | Russian |
| faults detected by the same test vectors | неисправности, которые детектируются одними и теми же тестовыми векторами (ssn) |
| generating test vectors | формирование тестовых векторов (ssn) |
| generating test vectors for combinational circuits | формирование тестовых векторов для комбинационных схем (ssn) |
| input-test vector | входной тестовый код (набор логических сигналов, поданных на входные контакты испытуемого прибора в течение определённого периода времени) |
| input-test vector | входная испытательная комбинация |
| input-test vector | набор входных воздействий |
| input-test vector | входной тестовый вектор |
| output test vector | набор выходных сигналов |
| output test vector | выходной тестовый код (набор логических состояний, фиксируемый на выходных контактах испытуемого прибора в течение определённого периода времени) |
| output-test vector | выходной тестовый вектор |
| output test vector | выходная кодовая комбинация |
| test vectors | тестовые векторы (ssn) |