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FD
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Subject
German
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microel.
Ablenkung
fdes
Schreibstrahls
writing deflection
construct.
Bedeckung
fder
Nagelköpfe
nailing
microel.
Beendigung
fder
Löschung
termination of erasure
microel.
Darstellung
fdes
binär kodierten Dezimalsystems
binary-coded decimal representation
construct.
Diagonallage
fder
Dachschindeln
diagonal slating
microel.
Durchbiegung
fder
Scheibe
slice bowing
mech.eng.
FD
-beheizte Zwischenüberhitzung
live-steam reheating
food.ind., chem.
FD
&C blue 1
E133
food.ind., chem.
FD
&C blue 1
brilliant blue FCF
food.ind., chem.
FD
&C blue 1
CI food blue 2
chem.
FD
&C red 3
E127
chem.
FD
&C red 3
erythrosine
chem.
FD
&C red 3
CI food red 14
food.ind.
FD
&C yellow 6
sunset yellow F
food.ind.
FD
&C yellow 6
Sunset Yellow FCF
food.ind.
FD
&C yellow 6
Orange yellow S
food.ind.
FD
&C yellow 6
FD&C Yellow No. 6
food.ind.
FD
&C yellow 6
disodium 2-hydroxy-1-
4-sulfonatophenylazo
naphthalene-6-sulfonate
food.ind., chem.
FD
&C yellow 5
tartrazine
food.ind.
FD
&C yellow 6
CI food yellow 3
food.ind.
FD
&C yellow 6
Crelborange S
food.ind., chem.
FD
&C yellow 5
CI food yellow 4
tech.
FD
-Leitungssystem
main steam piping system
microel.
fotografische Verkleinerung
fder
Originalvorlage
photographic reduction of the artmaster
microel.
funktionale Prüfung
fder
Chips
functional testing of the chips
microel.
Funktionsprüfung
fder
Chips
functional testing of the chips
microel.
Gleichmäßigkeit
fder
Ausleuchtung
illumination uniformity
microel.
Gleichmäßigkeit
fder
Linienbreite
line uniformity
microel.
Gleichtaktunterdrückung
fdes
Operationsverstärkers
common-mode rejection ratio of the op amp
construct.
Haltezeit
fder
höchsten Temperatur
maximum temperature period
(im Autoklaven)
microel.
Hierarchie
fder
meßtechnischen Anforderungen
metrological hierarchy
construct.
Hypothese
fder
maximalen Dehnung
maximum strain theory
(Festigkeit)
construct.
Höhe
fder
Wasserspiegellinie
hydraulic head
construct.
Kinderskulptur
fder
Renaissance
putto
microel.
Kontrolle
fder
Umgebungseinflüsse
environmental control
microel.
Kristallebene
fdes
Siliziums
crystal plane of silicon
microel.
Markierung
fder
relativen Adresse
relative address label
construct.
Nutzung
fder
Gebäude für Bildungszwecke
educational occupancy
microel.
Oberdekkung
fder
getrennten Maskierungsschritte
registration of the separate masking steps
microel.
partielle Veränderung
fder
Linienbreite
fractional change in line width
microel.
Schwankung
fder
Linienbreite
variation in line width
microel.
Schwankung
fder
Linienbreite
line width variation
construct.
Setzung
fder
Widerlager
settlement of abutments
microel.
Sicherung
fder
gleichmäßigen Linienbreite
line width control
microel.
Steilheit
fder
Lastlinie
slope of the load line
construct.
Streuung
fder
Festigkeitswerte
Scattering of strengths
construct.
Vergebung
fder
Arbeiten
letting of contract
microel.
Verringerung
fdes
Kontrasts
reduction in contrast
construct.
Verspreizung
fder
Balken
strutting of beams
construct.
Vorprüfung
fder
in Frage kommenden Bauauftragnehmer
prequalification of prospective bidders
microel.
Zahl
fder
Eingangs-Ausgangs-Anschlüsse zwischen 16 und 84
input-output counts ranging from 16 to 84
microel.
Änderung
fder
Linienbreite
line width variation
microel.
Überdeckung
fder
getrennten Maskierungsschritte
superposition of the separate masking steps
microel.
Überdeckung
fder
Maskenbilder zwischen den Ebenen
registration of the mask images from level to level
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