растровий електронний мікроскоп(Мікроскоп, який сканує зразок електронним променем, вимірює інтенсивність квантів, які випускаються зразком, таких як вторинні електрони, відбиті електрони тощо для перетворення в електричний сигнал)
скануючий зондовий мікроскоп(Будь-який мікроскоп, який використовує зонд з наконечником атомних розмірів і сканує ним в растрі поблизу зразка для вимірювання фізичних величин між зондом і поверхнею, щоб отримати зображення)