Subject | English | German |
microel. | allowable defects per cm2 | zulässige Defekte je cm2 |
microel. | appear as defects in the printed image | in dem übertragenen Bild als Defekte erscheinen |
stat., tech. | classification of defects or defectives | Klassifizierung von Fehlern oder fehlerhaften Einheiten |
microel. | classify defects into up to 10 different categories | Defekte in maximal 10 verschiedene Klassen einteilen |
econ. | defects in material | Materialfehler |
agric. | defects in the taste or smell of wine | geschmacklicher oder geruchlicher Mangel des Weines |
construct. | defects liability | Gewährleistung |
law | defects liability period | Nachhaftungsdauer |
law | defects liability period | Gewährleistungszeit |
construct. | defects liability period | Gewährleistungsfrist |
phys. | defects localization | Fehlerortbestimmung |
phys. | defects localization | Fehlerortung |
patents. | defects not censured | ungerügte Mängel |
patents. | defects not criticized | ungerügte Mängel |
construct. | defects notification | Mängelanzeige |
construct. | defects notification period | Mängelanzeigefrist |
patents. | defects of an application | Mängel einer Anmeldung |
law | defects of the system | Systemfehler |
gen. | defects of title | Rechtsmängel |
agric. | defects of wines | Mängel eines Weines |
agric. | defects of wines | Mängel eines Sektes |
stat., tech. | defects per hundred units | Anzahl Fehler je 100 Einheiten |
econ. | defects per hundred units | Qualitätskontrolle Fehleranzahl je 100 Einheiten |
stat., tech. | defects per unit | Anzahl Fehler je Einheit |
fin. | defects rectified | Mängel behoben |
comp. | defects structure | Defektstruktur |
opt. | detect defects of adjustment | Justierfehler feststellen |
construct. | extension of defects notification period | Verlängerung der Mängelanzeigefrist |
microel. | extract the defects from the top of the wafer | die Störstellen aus der Waferoberfläche abziehen |
microel. | fabricate intentionally defects into masks | Defekte absichtlich in Masken erzeugen (für Defektkontrollzwecke) |
patents. | objection to the defects of language | Beanstandung sprachlicher Fehler |
tech., met. | repairs and caulking intended to cover up defects are forbidden | Ausbesserungen oder verstemmungen, durch die Fehler verdeckt werden sollen, sind unzulaessig |
microel. | replicate defects on each chip | Defekte nach Lage und Größe auf jedem Chip wiederholen |
met. | surface defects such as scale, grooves, seams and cracks | Oberflaechenfehler wie Schalen, Riefen, Ueberwalzungen und Risse |
met. | the alternating regions, which contain no defects and many defects | die abwechselnd fehlerfreien und gittergestoerten Bereiche |
law | the delay in modifying the rules of whose defects the Commission was aware | die Verzögerung,mit der die Kommission Grundsätze,deren Mängel sie kannte,geändert hat |
met. | the surface are milled to remove defects in the ingot skin | die Blockschalen werden durch Oberflaechenschliff beseitigt |
microel. | trap the defects in the bulk of the wafer | die Störstellen im massiven Wafermaterial anlagern |
f.trade. | which include detectable defects exceeding the limits of acceptability | Geschmacksfehler, mit wahrnehmbaren unannehmbaren Geschmacksfehlern |
econ. | zero-defects concept | Nullfehlerprinzip |
automat. | zero defects program | Nullfehler-Programm |
econ. | zero-defects program | Null-Fehler-Programm |
microel. | zone denuded of defects at the wafer surface | störfreie Zone an der Waferoberfläche |