Terms containing electronic failure

Subject	English	Russian
missil.	electronic failure	выход радиоаппаратуры из строя
nano	electronic failure	отказ радиоэлектронного оборудования
nano	electronic failure	отказ электронного оборудования
qual.cont.	electronic failure	отказ радиоэлектронной аппаратуры
astronaut.	electronic failure	выход электронной аппаратуры из строя
non-destruct.test.	electronic failure	перебой в работе радиоэлектронного оборудования
non-destruct.test.	electronic failure	отказ электронной аппаратуры
non-destruct.test.	electronic failure	несрабатывание радиоэлектронного оборудования
non-destruct.test.	electronic failure	выход из строя радиоэлектронного оборудования
astronaut.	electronic failure	отказ РЭО
qual.cont.	electronic failure	неисправность радиоэлектронной аппаратуры
comp.	electronic failure	аппаратная неисправность (translator911)
qual.cont.	electronic failure card	карточка учёта отказов элементов электронной аппаратуры
mil., avia.	electronic failure report	донесение об отказе электронной аппаратуры
mil.	electronic failure report	донесения о выходе из строя электронного оборудования
tech.	electronic failure report	отчёт об отказах электронного оборудования
mil., avia.	electronic failure report	доклад об отказе электронной аппаратуры
mil., avia.	electronic failure report only	донесение только об отказе электронной аппаратуры
qual.cont.	electronic failure reporting system	электронная система передачи данных об отказах
qual.cont.	electronic failure reporting system	электронная система оповещения об отказах
astronaut.	electronic operating failure rate	частота появления неисправностей в электронной аппаратуре
qual.cont.	electronic operating failure rate	интенсивность отказов элементов электронной аппаратуры в процессе работы
mech.	the curve describes the expected failure rate of electronics with time	Кривая описывает ожидаемую интенсивность отказов электроники в зависимости от времени
mech.	the curve describes the expected failure rate of electronics with time: initially high, dropping to near 0 for most of the system's lifetime, then rising again	Кривая описывает ожидаемую интенсивность отказов электроники в зависимости от времени: первоначально значения функции велики, потом они падают почти до нуля к концу срока службы типичной системы, а затем снова повышаются