| Subject | English | Russian |
| telecom. | digital test access | цифровой тестовый доступ (oleg.vigodsky) |
| telecom. | line test access | линейный тестовый доступ (oleg.vigodsky) |
| telecom. | metallic test access | проводной тестовый доступ (oleg.vigodsky) |
| telecom. | metallic test access A | проводной тестовый доступ A (oleg.vigodsky) |
| progr. | standard test access port | стандартный тестовый порт доступа (ssn) |
| progr. | standard test access port and boundary-scan architecture | стандартный тестовый порт доступа и архитектура граничного сканирования (ssn) |
| softw. | test access | доступ к средствам тестирования (согласно требованиям стандарта JTAG (IEEE 1149.1-1990), порт доступа к средствам тестирования должен содержать пять внешних выводов: TDI (test data input) – вход тестовых данных, TDO (test data output) – выход тестовых данных, TMS (test mode select) – выбор тестового режима, ТСК (test clock) – тестовая синхронизация и необязательный (факультативный) вывод TRST (test reset) – асинхронный сброс Alex_Odeychuk) |
| telecom. | test access | тестовый доступ (oleg.vigodsky) |
| telecom. | test access circuit | схема тестового доступа (oleg.vigodsky) |
| telecom. | test access link | линия тестового доступа (oleg.vigodsky) |
| telecom. | test access network | сеть тестового доступа (oleg.vigodsky) |
| tech. | test access port | порт доступа к средствам тестирования интегральной схемы |
| progr. | test access port | порт доступа к средствам тестирования (тж. тест-порт; согласно требованиям стандарта JTAG (IEEE 1149.1-1990), содержит пять внешних выводов: TDI (test data input) – вход тестовых данных, TDO (test data output) – выход тестовых данных, TMS (test mode select) – выбор тестового режима, ТСК (test clock) – тестовая синхронизация и необязательный (факультативный) вывод TRST (test reset) – асинхронный сброс ssn) |
| progr. | test access port | порт доступа к сети для тестирования (ssn) |
| comp., MS | Test Access Port | TAP-порт (A collection of boundary scan control signals that define a serial protocol for scan-based devices. There are five pins, TCK/clock, TMS/mode select, TDI/data in, TDO/data out, and TRST/reset) |
| comp. | test access port | порт доступа к встроенным аппаратным средствам тестирования (PAYX) |
| IT | test access port | тест-порт |
| progr. | test access port | тестовый порт доступа (ssn) |
| el. | test access port | тестовый порт (напр. интерфейса JTAG) |
| progr. | test access port | сетевой тест-порт (ssn) |
| el. | test access port controller | контроллер тестового порта (интерфейса JTAG) |
| telecom. | test access unit | блок тестового доступа (oleg.vigodsky) |