|
Subject: Программирование, микроэлектроника Подскажите пожалуйста как луше перевести данное предложение.Буду благодарна за любую помощь. Bei den Portgrößen 2 Byte, 4 Byte und 8 Byte wird der Test mit um 8 Bit, 16 Bit und 24 Bit linksrotierten Testmustern wiederholt, um Adreßleitungsfehler bei einzelnen Bausteinen zu erkennen. |
|
не то чтобы я в этом чего-то понимала, но попробую: при содержимом (?) порта 2 байта, 4 и 8 байтов тест повторяется с тестовыми образцами (?), циклически сдвинутыми на 8, 16 и 24 бит, для распознавания ошибок адресной шины у отдельных модулей надеюсь, что более знающие коллеги поправят |
|
При номере (величине) порта 2, 4 и 8 Byte тест повторяется с отсчитанными слева контрольными примерами на... с целью распознавания адресной ошибки (адресными обиками) в линии связи (при передачи данных) на блоки (модули). Надо бы еще подкорректировать мой вариант... |
| не "обиками", а ошибками. (Пр. прощения с 5 -ти утра до 18 час. на ногах из-за этой прокл. работы!) |
|
Portgröße мне кажется так и будет размер порта Testmuster возможно тестовая комбинация |
|
тестовая комбинация здесь скорее было бы - Testdatensatz a Testmuster, я исходила из Testbeispiel= контрольный пример. (Словарь по вычислительной технике и программированию) Учтите Ульрих, я не спорю, а только как бы "намекаю"... Потому как все возможно.. |
|
Testdatensatz у меня в словарях значится запись с контрольными данными Testbeispiel идет как контрольный пример (напр. расчёта) а Testmuster я взял из Mikroelektronik тестовая комбинация |
| You need to be logged in to post in the forum |