подскажите и проверьте пжлста, анализ тонких пленок

[yavrum]

1) for accurate thickness, density and roughness determination, X's innovative model refinement is available,handling single and repeat multilayer stacks, and density and composition gradients.
Для точного определения толщины, плотности и неровности доступна новая улучшенная модель X .....??????.
2)system performs XRR and grazing identification of ultra thin films.
grazing identification ??????

3) reflectivity measurement of poly-Si for flat panel displays
Измерения коэффициента отражения поли кремния ....????

[Enote]

Для точного определения толщины, плотности и шероховатости доступна новая улучшенная модель X, которая позволяет измерять одиночные и периодически повторяющиеся многослойные структуры с градиентами плотности и состава?
Для сверхтонких пленок система может выполнить рентгеновскую рефлектометрию и измерения при скользящем угле падения
Измерение коэффициента отражения поликристаллического кремния для плоскопанельных дисплеев

[SH2]

yavrum
По ходу, Вы так и не поняли, что Вам придётся умереть. Просто. По-человечески. Совсем и навсегда, что бы Вы ни делали, сколько бы заказов ни украли у меня, как ни старались бы продемонстрировать не только совковость, но и безграмотность.
Просто потому что так решил я, и ничего, ну ничегошеньки Вы с этим не поделаете. Можете тихо радоваться или там кричать (от радости, опять же), а подохнуть придётся. Гыгыгыгы.