DictionaryForumContacts

   English
Terms for subject Nanotechnology containing microscope | all forms | exact matches only
EnglishRussian
aberration-corrected electron microscopeаберационно-скорректированный электронный микроскоп
aberration-corrected transmission electron microscopeпросвечивающий аберационно-скорректированный электронный микроскоп
ambient AFM microscopeАСМ для работы в атмосферной среде
ambient microscopeмикроскоп для работы в атмосферной среде
atmosphere-operated scanning tunnel microscopeСТМ для работы в атмосферной среде
atmosphere-operated scanning tunneling microscopeСТМ для работы в атмосферной среде
atmospheric-pressure scanning probe microscopeСЗМ для работы в атмосферной среде
atom-force microscope imageизображение атомно-силового микроскопа
atom-force microscope imageизображение АСМ
atomic force microscopeатомно-силовой микроскоп АСМ
atomic force microscope-based lithographyлитография с применением атомного силового микроскопа
atomic force microscope-based lithographyАСМ-литография
atomic force microscope-based measurementизмерение на основе атомно-силового микроскопа
atomic force microscope-based measurementизмерение на основе АСМ
atomic force microscope-based measuring systemсистема измерений на основе АСМ
atomic force microscope cantileverкантилевер АСМ
atomic force microscope imagingполучение изображения атомным силовым микроскопом
atomic force microscope investigationисследование с помощью АСМ
atomic force microscope investigationатомно-силовая микроскопия
atomic force microscope lithographyлитография с применением атомного силового микроскопа
atomic force microscope lithographyАСМ-литография
atomic force microscope mode researchисследование в режиме атомно-силового микроскопа
atomic force microscope mode researchисследование в режиме АСМ
atomic force microscope nanolithographyнанолитография с применением АСМ
atomic force microscope probeзонд атомно-силового микроскопа
atomic force microscope probeзонд АСМ
atomic-force microscope tipостриё атомно-силового микроскопа
atomic-force microscope tipостриё АСМ
auger microscopeоже-микроскоп
chemical force microscopeхимический силовой микроскоп
confocal microscopeконфокальный микроскоп
confocal scanning microscopeконфокальный растровый микроскоп
contact mode atomic force microscopeконтактный АСМ
controlled atmosphere microscopeмикроскоп для работы в регулируемой атмосферной среде
conventional microscopeобычный микроскоп
conventional microscopeмикроскоп на основе современных технологий
conventional microscopeмикроскоп на основе классических технологий
cryogenic scanning tunnel microscopeкриогенный сканирующий туннельный микроскоп
cryogenic scanning tunneling microscopeкриогенный сканирующий туннельный микроскоп
cryoprobe scanning tunnel microscopeсканирующий туннельный микроскоп с криогенным зондом
cryoprobe scanning tunneling microscopeсканирующий туннельный микроскоп с криогенным зондом
digital microscopeцифровой микроскоп
double objective microscopeмикроскоп с двумя объективами
double-aberration-corrected transmission electron microscopeпросвечивающий электронный микроскоп с двойной коррекцией аберрации
electron transmission microscopeпросвечивающий электронный микроскоп ПЭМ
electron X-ray microscopeэлектронно-рентгеновский микроскоп (MichaelBurov)
electron X-ray microscopeЭРМ (MichaelBurov)
electrostatic force microscopeэлектростатический силовой микроскоп
epifluorescence microscopeэпифлюоресцентный микроскоп
epifluorescence microscopeэпилюминесцентный микроскоп
epifluorescent microscopeэпифлюоресцентный микроскоп
epifluorescent microscopeэпилюминесцентный микроскоп
fluorescent microscopeлюминесцентный микроскоп
force microscopeсиловой микроскоп
friction force microscopeмикроскоп для исследования сил трения
high vacuum microscopeмикроскоп для работы в высоком вакууме
high vacuum-operated microscopeмикроскоп для работы в высоком вакууме
high voltage transmission electron microscopeвысоковольтный ПЭМ
high voltage transmission electron microscopeвысоковольтный просвечивающий электронный микроскоп
high-magnification optical microscopeоптический микроскоп с большим увеличением
high-resolution transmission electron microscopeПЭМ с высоким разрешением
high-voltage electron transmission microscopeвысоковольтный ПЭМ
high-voltage electron transmission microscopeвысоковольтный просвечивающий электронный микроскоп
infrared microscopeИК микроскоп
integrated microprobe-equipped atomic-force microscopeАСМ с интегральным микрозондом
ionic microscopeионный микроскоп
IR microscopeИК микроскоп
long-focus optical microscopeдлиннофокусный оптический микроскоп
low vacuum microscopeмикроскоп для работы в низком вакууме
low vacuum-operated microscopeмикроскоп для работы в низком вакууме
low-magnification optical microscopeоптический микроскоп с небольшим увеличением
low-temperature scanning tunnel microscopeнизкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп
low-temperature scanning tunneling microscopeнизкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп
low-voltage microscopeнизковольтный микроскоп
magnetic force microscopeмагнитно-силовой микроскоп МСМ
magneto-optical microscopeмагнитооптический микроскоп
microscope-assistedс применением микроскопа
microscope-basedс применением микроскопа
microscope-coupledсопряжённый с микроскопом
miniaturized scanning electron microscopeминиатюрный растровый электронный микроскоп
miniaturized scanning electron microscopeмини-РЭМ
modified atomic force microscope cantileverкантилевер модифицированного АСМ
modulation interference microscopeмодуляционный интерференционный микроскоп МИМ
molecular imaging scanning probe microscopeсканирующий зондовый микроскоп с молекулярной визуализацией
multi-pass microscopeмногопроходный микроскоп
nanotechnology-based microscopeмикроскоп на основе нанотехнологий
near-field microscopeмикроскоп ближнего поля
near-field scanning optical microscopeсканирующий оптический микроскоп ближнего поля
near-field scanning optical microscope tipостриё сканирующего оптического микроскопа ближнего поля
near-field scanning optical microscope tipостриё СМБП
next-generation microscopeмикроскоп следующего поколения
non-contact mode atomic force microscopeнеконтактный АСМ
photo-acoustic microscopeфотоакустический микроскоп
photoluminescence microscopeфотолюминесцентный микроскоп
photon-counting microscopeмикроскоп с устройством подсчёта фотонов
PL microscopeфотолюминесцентный микроскоп
scanning capacitance force microscopeсканирующий силовой микроскоп с ёмкостным сопротивлением
scanning capacitance force microscopeрастровый силовой микроскоп с ёмкостным сопротивлением
scanning electrochemical microscopeсканирующий электрохимический микроскоп
scanning electrochemical microscopeрастровый электрохимический микроскоп
scanning electron microscopeрастровый электронный микроскоп РЭМ
scanning electron microscope analyzerРЭМ-анализатор
scanning electron microscope analyzerанализатор на основе растрового электронного микроскопа
scanning electron microscope-assisted chemical analysisхимический анализ растровым электронным микроскопом
scanning electron microscope chemical analysisхимический анализ растровым электронным микроскопом
scanning electron microscope investigationрастровая электронная микроскопия
scanning electron microscope micrographРЭМ-снимок
scanning electron microscope micrographмикроснимок растрового электронного микроскопа
scanning force microscopeсканирующий силовой микроскоп
scanning force microscopeрастровый силовой микроскоп
scanning force microscope investigationрастровая силовая микроскопия
scanning Kelvin probe microscopeсканирующий зондовый микроскоп с режимом измерений по Кельвину
scanning near-field optical microscopeсканирующий ближнепольный оптический микроскоп
scanning optical microscopeсканирующий оптический микроскоп
scanning optical microscope investigationсканирующая оптическая микроскопия
scanning probe microscopeсканирующий зондовый микроскоп (MichaelBurov)
scanning probe microscopeсканирующий зондовый микроскоп СЗМ
scanning probe microscopeСЗМ (MichaelBurov)
scanning probe microscope-based metals nanomechanical processingнаномеханообработка металлов с помощью СЗМ
scanning probe microscope-based nano-processing platformплатформа для нанообработки материалов на основе сканирующего зондового микроскопа
scanning probe microscope investigationсканирующая зондовая микроскопия
scanning probe microscope lithographyСЗМ-литография
scanning probe microscope lithographyлитография с применением сканирующего зондового микроскопа
scanning probe microscope nanoprocessingобработка материалов с применением сканирующего зондового микроскопа
scanning probe microscope positioningпозиционирование инструмента с применением сканирующего зондового микроскопа
scanning transmission X-ray microscopeсканирующий просвечивающий рентгеновский микроскоп (MichaelBurov)
scanning transmission X-ray microscopeпросвечивающий рентгеновский микроскоп (MichaelBurov)
scanning transmission X-ray microscopeСПРМ (MichaelBurov)
scanning tunnel microscopeсканирующий туннельный микроскоп СТМ
scanning tunnel microscope-assisted nanosystems manufacturingпроизводство наносистем с помощью СТМ
scanning tunnel microscope-assisted nanosystems productionпроизводство наносистем с применением СТМ
scanning tunnel microscope lithographyСТМ-литография
scanning tunnel microscope lithographyлитография с применением сканирующего туннельного микроскопа
scanning tunnel microscope mode researchисследование в режиме СТМ
scanning tunnel microscope mode researchисследование в режиме сканирующего туннельного микроскопа
scanning tunnel microscope tipостриё СТМ
scanning tunnel microscope tipостриё сканирующего туннельного микроскопа
scanning tunneling microscopeсканирующий туннельный микроскоп СТМ
scanning tunneling microscope-assisted nanosystems manufacturingпроизводство наносистем с помощью СТМ
scanning tunneling microscope-assisted nanosystems productionпроизводство наносистем с применением СТМ
scanning tunneling microscope investigationрастровая туннельная микроскопия
scanning tunneling microscope mode researchисследование в режиме СТМ
scanning tunneling microscope mode researchисследование в режиме сканирующего туннельного микроскопа
scanning tunneling microscope tipостриё СТМ
scanning tunneling microscope tipостриё сканирующего туннельного микроскопа
semi-contact atomic force microscopeполуконтактный АСМ
transmission electron microscopeпросвечивающий электронный микроскоп ПЭМ
transmission electron microscope observationнаблюдение с помощью просвечивающего электронного ПЭМ
transmission electron microscope observationнаблюдение с помощью просвечивающего электронного микроскопа
transmission electron microscope sampleПЭМ-образец
transmission electron microscope sampleобразец для исследования просвечивающим электронным микроскопом
transmission microscopeпросвечивающий микроскоп
transmission X-ray microscopeПРМ (MichaelBurov)
tunneling microscopeтуннельный микроскоп
UHV microscopeмикроскоп для работы в сверхвысоком вакууме
UHV-operated microscopeмикроскоп для работы в сверхвысоком вакууме
ultrafast electron microscopeсверхбыстродействующий электронный микроскоп
ultrahigh resolution microscopeмикроскоп со сверхвысоким разрешением
ultrahigh vacuum microscopeмикроскоп для работы в сверхвысоком вакууме
ultrahigh vacuum-operated microscopeмикроскоп для работы в сверхвысоком вакууме
unconventional microscopeмикроскоп на основе перспективных технологий
UV microscopeУФ-микроскоп
UV microscopeультрафиолетовый микроскоп
variable-temperature microscopeмикроскоп для работы при различных температурах
versatile microscopeмногоцелевой микроскоп
wave microscopeволновой микроскоп