 |
| Russian | English |
| изменение свойств материала по диаметру полупроводниковой пластины | across-wafer variation |
| изменение свойств поверхности | surface modification |
| определение свойств | properties characterization |
| прибор с управляемыми поверхностными свойствами | controlled surface device |
| топологическое свойство | abstract concept (ssn) |
| точечный физический объект с квантовыми свойствами | quantum dot (квантовая точка ssn) |
| язык описания свойств | property-specification language (язык формальной проверки, который разрабатывался специально для максимально эффективного описания утверждений и свойств. PSL отличается широкими возможностями для создания сложных регулярных и временных выражений, и позволяет описывать сложные поведенческие аспекты с помощью нескольких строк кода. Этот язык представляет собой промышленный стандарт, контролируемый компанией Accellera, основан на языке Sugar компании IBM ssn) |