Terms for subject Microelectronics containing под

Russian	English
выборочные испытания под нагрузкой	stress test screening
границы под малым углом	small-angle boundaries
деградация под воздействием суммарной дозы радиации	total dose degradation
деградация под воздействием УФ-излучения	uv degradation
диффузионная печь под управлением ЭВМ	computer-controlled diffusion furnace
испытания на надёжность под нагрузкой	stress reliability test
каналы под металлизацию	branch layer
квалификационное испытание под нагрузкой	burn-in qualification
контроль под микроскопом	high-magnification inspection
кремний в аморфном состоянии под воздействием ионной	implantation-amorphised silicon
легирование под защитным слоем оксида	field oxide doping
напыление под углом	bias sputtering (key2russia)
область под защитным оксидным слоем	field region
оксидирование кремния под маской	lateral oxidation
оксидирование под действием лазерного излучения в УФ-диапазоне	ultra-violet laser oxidation
осаждение под острым углом к поверхности	oblique deposition
подтравливание кремния под диоксидом кремния	bat cave
подтравливание под защитным оксидом	field-oxide encroachment
подтравливание под оксидной маской	oxide encroachment
проверка влагостойкости в парах под давлением	vacuum-steam-pressure test
проект под ключ	turnkey project
производственное оборудование под ключ	turnkey manufacturing facility
рекристаллизация под действием лазерного излучения	laser-induced recrystallization
случайный сбой под воздействием альфа-частиц	alpha-induced soft error
структура, расположенная под изолирующими областями	subisolation pattern
термообработка под нагрузкой	bias and hardness process
термообработка под нагрузкой	bh process
Технология осаждения под углом к поверхности	oblique angle deposition technique (senmirra)
уход параметров под влиянием температуры	temperature drift
фиксирование под влиянием радиации	radiation induced latchup