Terms for subject Microelectronics containing выход на

Russian	English
выход годных на операции выборочных испытаний	screening yield
выход годных на операции зондовых испытаний	probe yield
выход годных на операции отбраковки	screening yield
выход годных на операции термокомпрессионной сварки	bonding yield
выход годных на разделение полупроводниковых пластин	chip-separation yield
фактор, влияющий на процент выхода годных	yield factor