Terms for subject Microelectronics containing probe

English	Russian
capacitance probe	ёмкостный зонд
electron-beam probe	электронно – лучевой зонд
fault inject probe	зонд для внесения неисправностей в ИС
Four-probe measurements	Измерения четырёхзондовым методом (senmirra)
four-point probe method	четырёхзондовый метод
four-point probe technique	четырёхзондовый метод
Kelvin probe force microscopy	Кельвин-зондовая силовая микроскопия (semfromshire)
logic probe	многозондовая установка для проверки логических ИС
mercury probe	зондовая измерительная установка с ртутными контактами
mercury-probe-silicon diode	p-n-переход между кремнием и ртутным зондом
microcircuit probe	зондовая установка для проверки кристаллов интегральных микросхем
noninvasive probe	неразрушающий зонд
noninvasive probe	бесконтактный зонд
over-under probe method	метод встречных зондов
probe contact pad	контрольная контактная площадка
probe station	зондовая измерительная установка
probe test	зондовые испытания
probe yield	выход годных на операции зондовых испытаний
quided-probe testing	тестирование с ведомым зондом
quided-probe testing	зондовый поиск неисправностей
test probe	зондовая измерительная установка
tungsten-tipped probe	зонд с вольфрамовым остриём
vacuum probe	вакуумный пинцет