Terms for subject Microelectronics containing by the

English	German
apply the resist evenly by spinning the wafer at high speed	das Resist gleichmäßig auf den Wafer mit hoher Geschwindigkeit aufschleudern
approximate by the expression	näherungsweise durch den Ausdruck darstellen
area scanned by the beam	vom Strahl abgerasterte Fläche
attach the chip carrier to the ceramic board by means of solder reflow	den Chipträger auf dem Keramiksubstrat durch Aufschmelzlöten befestigen
boule grown by the Czochralski process	nach dem Czochralski-Verfahren gezogener Einkristallkörper
cause the requests to be executed by peripherals	die Bearbeitung der Anforderungen durch die Peripherie veranlassen
control exposure time by the scan speed	die Belichtungszeit durch die Scanninggeschwindigkeit steuern
control the radiation source directly by stored data	die Strahlungsquelle durch gespeicherte Daten direkt steuern
crossing of the junction by individual carriers	Durchqueren des pn-Übergangs durch einzelne Ladungsträger
cut the line's delay by 6 ns	die Leitungsverzögerung um 6 ns verkürzen
cut the mask generation time down by a factor of two to three	die Maskenherstellungszeit um das Zwei- bis Dreifache verringern (reduzieren)
design the circuit by calculation	die Schaltung berechnen
design the circuit by calculation	die Schaltung auf mathematischer Grundlage entwerfen
design the Circuit by trial and error	die Schaltung rein empirisch entwerfen
direct exposure of wafers by the electronbeam system	Direktbelichtung von Wafern durch die Elektronenstrahlanlage
fill in the rectangle by the writing beam	das Rechteck mit dem Schreibstrahl ausfüllen
fill the slit by the lamp image	den Spalt durch das Lampenbild ausfüllen
generate the pattern by exposing a resist coating	die Struktur durch Belichtung einer Resistschicht erzeugen
hang caused by the program looping continuously	Stopp durch Dauerschleife
hang caused by the program looping continuously	Programmstopp durch Dauerschleife
identify the erroneous bit by a corresponding binary 1	das fehlerhafte Bit durch eine entsprechende binäre 1 kennzeichnen
increase the chip's 0.5 W power dissipation by only 3 %	die Chipverlustleistung von 0,5 W nur um 3 % erhöhen
interrogate by the microcomputer	durch den Mikrocomputer abfragen
isolate the p-regions from the substrate material by a depletion layer	die p-Zonen vom Substratmaterial durch eine Verarmungsrandschicht trennen
limitation of resolution imposed by the wavelength of light	durch die Lichtwellenlänge bedingte Begrenzung der Auflösung
partitioning of the wafer image by step-and-repeat projection	Aufteilung des Waferbildes durch schrittweise Projektionsübertragung
partitioning of the wafer image by step-and-repeat projection	Unterteilung des Waferbildes durch schrittweise Projektionsübertragung
percentage area of coverage by the pattern	Bedeckungsgrad (Anteil der zu belichtenden Strukturfläche an der Gesamtfläche)
raster-scan the beam over a 128-by-128 pixel area	den Strahl rasterartig über eine quadratische Fläche von 128² Bildelementen führen
reduce IC costs by increasing the functional capabilities	die Kosten der integrierten Schaltungen durch Vergrößerung der Funktionsmöglichkeiten verringern
removal of the more-soluble material by the developer	Entfernung des löslicheren Materials durch den Entwickler
remove the exposed circuit features by the developer	die belichteten Schaltkreisstrukturen durch den Entwickler entfernen
rescale the chip to a different size by computer	das Chip auf eine andere Größe mit Computer neu skalieren
scan each subfield by the electron beam in a raster	jedes Unterfeld mit dem Elektronenstrahl abrastern (rasterförmig abtasten)
separate the individual chips by sawing the wafer	die Chips durch Zersägen des Wafers vereinzeln
sort the chips by test results	die Chips nach Testergebnissen sortieren
step the electron beam by 0.5 μm in the x-direction	den Elektronenstrahl schrittweise um 0,5 μm in x-Richtung führen
vary by as much as 10 % from the centre to the edge of the substrate	sich um bis zu 10 % von der Mitte zum Rand des Substrats ändern
verify the design on a cell-by-cell basis	den Entwurf zeilenweise prüfen