latch-up(эффект, провляющийся при подаче/снятии питания КМОП-микросхем и заключающийся в необратимом одновременном отпирании верхних и нижней ключей, приводящих к образованию тока к.з.; может стать причиной отказа ИС; в современной электронике такая проблема имеет место у СБИС с несколькими напряжениями питания, если не придерживаться рекомендаций относительно последовательности формирования напряжений питания)
Wiegand effect(появление разрывов на петле гистерезиса скрученного ферромагнитного стержня, у которого сердцевина и наружный слой имеют разные коэрцитивные силы)
nail-head effect(nail-heading; расплющивание торцов внутренних проводящих слоёв при сверлении ПП; "шляпка гвоздя" закрывает поверхность диэлектрика, резко ухудшая условия травления стенок отверстий)