Terms for subject Microelectronics containing спектроскопия

Russian	English
анализ методом рентгеновской фотоэмиссионной спектроскопии	x-photoemission spectroscopy analysis
инфракрасная абсорбционная спектроскопия	infrared absorption spectroscopy
исследование методом рамановской спектроскопии	Raman probing
мессбауэровская спектроскопия	mossbauer spectroscopy
микроволновая спектроскопия	microwave spectroscopy
многофотонная ионизационная времяпролётная масс-спектроскопия	multiphoton ionization time-of-flight mass spectroscopy
профиль, изменённый методом электронной Оже-спектроскопии	Auger depth profile
рамановская спектроскопия	Raman spectroscopy
релаксационная зарядовая спектроскопия	charge transient spectroscopy
релаксационная спектроскопия глубоких уровней	deep-level transient spectroscopy
рентгеновская спектроскопия	x-ray spectroscopy
рентгеновская спектроскопия при скользящих углах	glancing-angle X-ray spectroscopy
спектроскопия методом полной проводимости	admittance spectroscopy
спектроскопия резонансного туннелирования	resonant tunneling spectroscopy
спектроскопия релаксации заряда	charge transient spectroscopy
спектроскопия с преобразованием Фурье	Fourier transform ir spectroscopy
спектроскопия состояний в запрещённой зоне	gap state spectroscopy
спектроскопия энергетических потерь	energy loss spectroscopy
спектроскопия энергетической дисперсии рентгеновского излучения	energy dispersive X-ray spectroscopy
термодесорбционная спектроскопия	thermal desorption spectroscopy
туннельная спектроскопия	tunneling spectroscopy
ультрафиолетовая фотоэмиссионная спектроскопия	ultraviolet photoemission spectroscopy
фотолюминесцентная спектроскопия	photoluminescence spectroscopy
фотоэлектронная спектроскопия	photoelectronic spectroscopy
электронная Оже-спектроскопия	Auger electron spectroscopy
электронная спектроскопия энергетических потерь	electron energy loss spectroscopy