Terms for subject Mass media containing дефекты типа

Russian	English
дефект ЗУ с произвольной выборкой типа «сцепление»	coupling fault (при котором запись в одну из ячеек памяти влечёт изменение состояния другой ячейки)
дефект ЗУ с произвольной выборкой типа «сцепление»	coupling cell (при котором запись в одну из ячеек памяти влечёт изменение состояния другой ячейки)
дефект ЗУ типа «параллельный доступ»	multiple access fault (при считывании и/ или записи наряду с адресуемой ячейкой памяти доступны другие ячейки)
дефект типа «замыкание ветви»	branch-short fault (в МОП-схемах)
дефект типа «короткое замыкание»	short fault
дефект типа «короткозамкнутый входной диод»	shorted diode fault (непредставимый моделью константной неисправности)
дефект типа «обрыв ветви»	branch-open fault (в МОП-схемах)
дефект типа «обрыв цепи»	open fault
дефект типа перемычки между слоями полупроводника в БИС	short diffusions fault
дефект типа перемычки между токоведущими дорожками печатной платы	bridging fault
дефект типа перемычки между токоведущими дорожками печатной платы	bridge fault
дефект типа «плавающий затвор» в МОП-схемах	floating gate fault
дефект типа «постоянно включённый затвор» на входе МОП-структуры	stuck-on fault (не сводящийся к константной неисправности)
дефект типа «постоянно отключённый затвор» на входе МОП-структуры	stuck-open fault (сводящийся к константной неисправности на соответствующем входе)
дефект типа «птичий клюв»	bird’s beak (при боковом подтравливании оксида в ИС с боковой диэлектрической изоляцией)
ячейка памяти ЗУПВ, при записи в которую может измениться состояние другой ячейки вследствие дефекта ЗУПВ типа «сцепление»	coupling cell (ЗУПВ — ЗУ с произвольной выборкой)
ячейки ЗУ с произвольной выборкой, состояние которых может измениться при записи в другие ячейки вследствие дефекта ЗУ с произвольной выборкой типа «сцепление»	coupling cell
ячейки ЗУ с произвольной выборкой, состояние которых может измениться при записи в другие ячейки вследствие дефекта ЗУ с произвольной выборкой типа «сцепление»	coupled cell