Russian | English |
буфер данных о карте дефектов | map buffer |
взаимодействие электронов с дефектами | electron-defect interaction |
геттерирование дефектов ионной имплантации | ion-implantation gettering |
гидридный дефект | hydride defect |
глубина поиска дефекта | resolution of fault location (при выявлении неисправностей РЭА) |
двухмерный дефект | two-dimensional defect |
двухмерный дефект | planar defect |
декорированный дефект | decorated damage |
детектор дефекта | defect detector |
дефект аппроксимации | excess of approximation |
дефект в виде пятна | spot (на ПП) |
дефект в результате ядерного нагрева | nuclear heat damage |
дефект внешнего вида изделия | cosmetic defect (напр., обесцвечивание) |
дефект, вызванный ионной имплантацией | ion-implantation-induced defect |
дефект, вызванный ионным облучением | ion-beam damage |
дефект, вызванный обработкой материала | process-induced defect |
дефект, заключающийся в наличии пустот на поперечном срезе ламината | laminate void (из-за неравномерного распределения или недостаточности пропиточной смолы в структуре) |
дефект изображения | picture fault |
дефект изображения | halation |
дефект кристаллической решётки | crystal imperfection |
дефект кристаллической решётки | crystalline defect |
дефект кристаллической решётки | lattice imperfection |
дефект кристаллической решётки | lattice damage |
дефект кристаллической решётки | crystalline imperfection |
дефект кристаллической решётки | crystal defect |
дефект массы | mass excess |
дефект многожильного провода, состоящий в нарушении взаимного расположения жил расхождении жил на участке между краем изоляции и облуженным концом провода | birdcage |
дефект многожильного провода, состоящий в нарушении взаимного расположения жил расхождении жил на участке между краем изоляции и припаянным концом провода | birdcage |
дефект монтажа | wiring blemish |
дефект оболочечной трубы | cladding tube defect |
дефект оболочечной трубы | clad tube defect |
дефект оболочки | can defect |
дефект оболочки ТВЭЛа | cladding defect |
дефект паяного соединения | cold solder connection (возникающий вследствие недостаточного или неравномерного нагрева припоя, из-за смещения спаиваемых деталей и др.) |
дефект плакированной трубы | cladding tube defect |
дефект плакированной трубы | clad tube defect |
дефект по франку | frank defect |
дефект по Шокли | Shockley defect |
дефект поверхности материала | pit |
дефект поверхности слоистого материала, появляющийся в результате ломки армирующих волокон, концы которых выступают на поверхность механически обработанных участков материала | fiber exposure |
дефект подзатворного оксида | gate-oxide defect |
дефект "посадочной коррозии" | fretting corrosion defect |
дефект решётки | lattice damage |
дефект с износом | wear out defect |
дефект сварных соединений в виде полости | blow-out (возникает при чрезмерном нагреве острой грани свариваемой детали) |
дефект смещения | displacement damage |
дефект, созданный имплантацией | implantation damage |
дефект, созданный ионизацией | ionization-produced damage |
дефект, созданный ионной имплантацией | ion-implantation defect |
дефект, созданный электронным лучом | electron-beam damage |
дефект стереоскопического изображения в виде соседних образов | spook (по обеим сторонам от истинного) |
дефект стереоскопического изображения в виде соседних образов | ghost (по обеим сторонам от истинного) |
дефект строительства | constructional deficiency |
дефект типа вакансия-междоузлие | Frenkel defect |
дефект типа "птичий клюв" | bird's beak defect |
дефект типа "птичий клюв" | bird's beak |
дефект типа смещения | displacement damage |
дефект упаковки | stacking fault (в кристаллической структуре) |
дефект Френкеля | Frenkel defect |
дефект центрирования | centering defect |
дефект эпитаксиальных плёнок | pyramid |
дефекты в конденсаторах | capacitor shortcomings (ssn) |
дефекты в соединительных проводах | subtle cable defects (напр., в усилителях мощности звуковых частот ssn) |
дефекты изготовления | manufacturing deficiency |
дефекты пайки типа "надгробный камень" | tombstoning (mock) |
дефекты полупроводниковой ИС в виде сколов на поверхности | chip-outs (при этом обнажаются активные приборы) |
диффузия дефектов | defect diffusion |
допороговый дефект | subthreshold damage |
изолированный дефект упаковки | isolated stacking fault |
имеющий дефекты | defective |
исправление дефектов пайки компонент BGA | reballing (mock) |
испытание на обнаружение дефекта | defect detecting test |
концентрация дефектов | defect cluster |
концентрация поверхностных дефектов | surface-defect density |
ликвидация дефектов | defect treatment |
линейный дефект | line imperfection |
линейный дефект | lineage |
линейный дефект | linear defect |
линейный дефект | linage |
маскирование дефекта | fault masking (обстоятельства, при которых дефект оказывается скрытым) |
материал с дефектами | irregular |
не имеющий дефектов | perfect |
незначительный дефект | minor defect (дефект, не влияющий на работоспособность изделия) |
неподвижный дефект | sessile fault |
несобственный дефект упаковки | extrinsic stacking fault |
несущественный дефект | minor defect (дефект, не влияющий на работоспособность изделия) |
образование дефектов | defect creation |
образование дефектов кристаллической решётки | lattice damage |
образование дефектов поверхности типа "апельсиновая кожура" | peeling |
образование дефектов поверхности типа апельсиновая кожура | peeling |
образование радиационных дефектов внедрения | decomposition |
отказ из-за дефекта | inherent-weakness failure (отказ, вызванный собственными дефектами изделия при нормальных нагрузках) |
пара внутренний дефект упаковки – внешний дефект упаковки | intrinsic-extrinsic stacking fault pair |
пара внутренний дефект упаковки-внешний дефект упаковки | intrinsic-extrinsic stacking fault pair |
пара дефект по Френкелю | interstitial-vacancy pair |
пара дефект по Френкелю | Frenkel pair |
петлеобразный дефект | loop-shaped defect |
петля точечных дефектов | point-defect loop |
плоский дефект | two-dimensional defect |
плоский дефект | planar defect |
поиск дефекта | fault location (диагностирование, целью которого является определение места и, при необходимости, причины и вида дефекта) |
поиск дефекта | fault location test (диагностирование, целью которого является определение места и, при необходимости, причины и вида дефекта) |
полоса поглощения на дефектах | defect absorption band |
прерывной дефект | intermittent fault |
прибор для указания дефектов в изоляции | insulation fault detecting instrument |
приборы для коррекции дефектов зрения | eyewear |
примесный дефект | impurity damage |
радиационный дефект | radiation- defect |
распределение дефектов по плотности | defect-density distribution |
рассеяние на дефектах | defect-center scattering |
рассеяние на дефектах | defect scattering |
рассеяние электронов на дефектах | electron-defect scattering |
ростовой дефект | grown-in defect |
система непрерывного контроля дефектов в топливе | fuel failure monitoring system |
скрытый дефект | hidden defect |
случайный дефект | accident defect |
собственный дефект | native defect |
собственный дефект упаковки | intrinsic stacking fault |
создавать дефекты | flaw |
способ заварки отверстий, трещин и поверхностных дефектов в керамических изделиях | ceramic welding technique |
стехиометрический дефект | stoichiometric defect |
стреловидный дефект | arrowhead (роста) |
структурный дефект | crystalline imperfection |
структурный дефект | lattice defect |
структурный дефект | crystalline defect |
существенный дефект | major defect (дефект, влияющий на работоспособность изделия) |
таинственные дефекты в конденсаторах | mysterious capacitor shortcomings (ssn) |
таинственные дефекты в конденсаторах или соединительных проводах | mysterious capacitor shortcomings and subtle cable defects (ssn) |
температурный дефект | temperature defect |
точечные дефекты | orange peel |
точечный дефект | spot fault (напр. изображения) |
точечный дефект | spot (на поверхности электрода) |
точечный дефект | point imperfection (кристалла) |
устранение дефекта | debugging |
устранение дефектов в кристалле | crystal repair |
устранение дефектов технологического порядка до завершения процесса изготовления ПП | in-process corrective procedures |
устранение неисправности или дефекта | debugging |
фоточувствительный дефект | light-sensitive defect |
число дефектов на миллион | defects per million |
электрически активный дефект упаковки | electrically active stacking fault |
электропроводность, обусловленная дефектами кристаллической решётки | defect conduction |
энергия дефекта упаковки | stacking-fault energy |