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Terms
for subject
Microelectronics
containing
inspection
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all forms
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exact matches only
English
German
automated photomask
inspection
automatische Defektkontrolle auf Fotoschablonen
automatic
inspection
of mask defects
automatische Defektkontrolle
average total
inspection
durchschnittliche Anzahl der geprüften Einheiten je Los
chip
inspection
Chipprüfung
defect
inspection
Defektkontrolle
defect
inspection
equipment
Defektkontrollgerät
defect
inspection
task
Defektkontrollaufgabe
dimensional
inspection
in a microdensitometer mode
Kontrolle der Abmessungen nach einem Mikrodensitometerverfahren
double sampling
inspection
Doppelstichprobenprüfung
go through an optical
inspection
eine optische Kontrolle durchlaufen
hundred-percent
inspection
Vollprüfung
100 %
inspection
Vollprüfung
inspection
audit
Revision des Kontrollverfahrens
inspection
audit
Überprüfung des Kontrollverfahrens
inspection
by variables
Variablenstichprobe
inspection
data
Kontrolldaten
inspection
equipment
Kontrollgerät
inspection
error
Kontrollfehler
inspection
for visual defects
Kontrolle auf visuelle Defekte
inspection
of photomask defects
Kontrolle von Maskendefekten
inspection
result
Kontrollergebnis
inspection
sampling plan
Kontrollstichprobenplan
inspection
speed
Kontrollgeschwindigkeit
inspection
technique
Kontrollverfahren
inspection
time
Prüfzeit
inspection
time
Kontrollzeit
intermediate
inspection
Zwischenkontrolle
mask
inspection
Defektkontrolle der Maske
mask
inspection
equipment
Defektkontrollgerät
mask
inspection
equipment
Maskenprüfgerät
mask
inspection
station
Defektkontrollstation
mask
inspection
system
Defektkontrollgerät
mask
inspection
system
Maskenprüfgerät
mask
inspection
technique
Maskenkontrollverfahren
multiple sampling
inspection
Mehrfachstichprobenprüfung
output selected data to the operator for visual
inspection
ausgewählte Daten für den Bediener zur Sichtkontrolle ausgeben
100-percent visual
inspection
visuelle Vollprüfung
photomask
inspection
machine
Defektkontrollgerät
photomask
inspection
system
Defektkontrollgerät
photomask
inspection
technology
Maskenkontrolltechnik
production
inspection
Produktionskontrolle
reticle
inspection
equipment
Retikelprüfgerät
sampling
inspection
plan
Stichprobenprüfplan
Screening
inspection
Vollprüfung
sophisticated automatic
inspection
komplizierte automatische Kontrolle
(Prüfung)
visual defect
inspection
visuelle Defektkontrolle
wafer
inspection
and classification system
Waferdefektkontroll- und -klassifizierungsanlage
wafer
inspection
microscope
Waferkontrollmikroskop
wafer
inspection
station
Waferkontrollplatz
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