 |
|
Subject: by stressing low distortion - ??? Речь о новой головке для оптических измерений (в конфокальном микроскопе): This head supports a micron-level measuring capability, and has been optimized for semiconductor measuring by stressing low distortion to optimize the entire field of view. Данная головка способна производить измерения с точностью до микрона и была специально разработана для измерений полупроводников путем ??? (напряжения? подчеркивания? выделения?) низкого уровня искажения с целью оптимизации всего поля зрения. Буду очень благодарна за помощь. |
| была специально разработана для измерений на полупроводниковых приборах: особо следует отметить малые искажения по всему полю зрения. |
|
либо: была специально разработана для измерений на полупроводниковых приборах: особый акцент был сделан на минимизации искажений по всему полю зрения. |
| Это не вообще искажения, а именно дисторсия - аберрация такая |
| Большое спасибо! |
| You need to be logged in to post in the forum |