Iniciar sesión
|
Spanish
|
Términos y condiciones de uso
Diccionarios
Foro
Contactos
Alemán
Búlgaro
Catalán
Checo
Chino
Croata
Danés
Eslovaco
Esloveno
Español
Estonio
Euskera
Finlandés
Francés
Griego
Húngaro
Inglés
Irlandés
Italiano
Japonés
Latín
Letón
Lituano
Maltés
Neerlandés
Noruego
Polaco
Portugués
Rumano
Ruso
Serbio latín
Sueco
Turco
Ucraniano
Vietnamita
Árabe
⇄
Alemán
Búlgaro
Catalán
Checo
Chino
Croata
Danés
Eslovaco
Esloveno
Español
Estonio
Euskera
Finlandés
Francés
Griego
Húngaro
Inglés
Irlandés
Italiano
Japonés
Latín
Letón
Lituano
Maltés
Neerlandés
Noruego
Polaco
Portugués
Rumano
Ruso
Serbio latín
Sueco
Turco
Ucraniano
Vietnamita
Árabe
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
>>
Términos sobre el tema
Microelectrónica
(25676 статей)
1 x projection printer
устаткування проекційної літографії без масштабування
1-2-3 compound
надпровідникова сполука Y1Ba2Cu3O7-x
1-2-3 material
сполука типу 1–2–3
10 x reticle
проміжний фотошаблон в масштабі 10 : 1
10 x reticle
фотооригінал в масштабі 10:1
100 plane face
грань, розташована в кристалографічній площині 100
111 orientation
орієнтація в кристалографічній площині 111
111 silicon
кремній, орієнтований в кристалографічній площині 111
1:1 magnification catadioptric lens
збільшувальна катадіоптрична лінза
1:1 mask
фотошаблон без масштабування
1:1 photomasking technique
метод фотолітографії без масштабування
1:1 photomasking technique
метод фотолітографії з масштабом 1:1
1:1 projection photolithography
проекційна фотолітографія без масштабування
1:1 projection photolithography
проекційна фотолітографія з масштабом 1:1
1x mask
одинарний фотошаблон
1x mask
фотошаблон з однією структурою
1x photomask
фотошаблон, виготовлений в масштабі 1:1
2D hole gas
двовимірний дірковий газ
2D quantum box array
матриця двовимірних квантових точок
3 points alignment mode
метод суміщення по трьох точках
Enlace corto a esta página