אנגלית ⇄ סינית רוסית

single-event gate rupture מתח
.מכשיר	Пробой подзатворного диэлектрика в мощных МОП-транзисторах (происходит в результате попадания в транзистор тяжёлых заряженных частиц с высокой энергией Klimonka)