| |||
| атомно-силовий мікроскоп (Тип скануючого зондового мікроскопа з мікроскопічним сенсором сили як зонд. Проводячи сканування силовим сенсором (гнучка консоль з на-конечником) АСМ над поверхнею зразка і записуючи деформацію консолі, можна вимірювати локальну висоту, хімічні і механічні властивості зразка) | |||
| Anglais glossaire | |||
| |||
| AMF (Kate_S) | |||
