| |||
фокусированный ионный пучок (MichaelBurov); ФИП (MichaelBurov); фокусированный ионный пучок ФИП | |||
сфокусированный ионный луч (taboon) | |||
| |||
сфокусированный ионный луч (A focused beam of gallium ions that can be used to image the surface of a PCB or other object) | |||
| |||
сфокусированный ионный пучок |
focused ion beam: 58 phrases, 6 sujets |
Électronique | 1 |
Electronique quantique | 2 |
Microélectronique | 1 |
Nanotechnologie | 50 |
Physique des hautes énergies | 1 |
Technologie | 3 |