 |
| |||
| несправність, що перевіряється за допомогою тесту | |||
| вия́вна ва́да | |||
|
detectable fault : 1 phrase in 1 subject |
| Microelectronics | 1 |
|
| |||
| несправність, що перевіряється за допомогою тесту | |||
| вия́вна ва́да | |||
|
detectable fault : 1 phrase in 1 subject |
| Microelectronics | 1 |