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| Stichprobenkontrolle f; Teilkontrolle m; Teilprüfung f | |||
| Ansteuerungsprüfung f; Auswahlprüfung f | |||
| Ansteuerungskontrolle f; Auswahlkontrolle f; Ansteuerungspruefung f (Datenverarbeitung); Auswahlpruefung f (Datenverarbeitung) | |||
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| Microelectronics | 1 |